| 產(chǎn)品詳細(xì)介紹 |
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基本精度為0.1%
測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的最價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀，供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率（選件002）。
高速測(cè)量
Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來(lái)提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率，4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的可靠性，有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以最高速度工作。
電解電容器測(cè)量
Ailent 4263B的精度和寬的測(cè)量范圍是對(duì)電解電容器進(jìn)行精密測(cè)量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測(cè)試正常進(jìn)行。
變壓器參數(shù)測(cè)量
由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測(cè)量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測(cè)試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作（選件001）靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測(cè)量與電平有關(guān)的被測(cè)件，始磁芯電感器。 |
| 產(chǎn)品功能描述 |
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| 測(cè)量參數(shù) |
|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR |
| 選件001 |
增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 |
| 測(cè)量電路形式 |
串聯(lián)和并聯(lián) |
| 數(shù)學(xué)功能 |
偏差和百分偏差 |
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 |
0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) |
| 測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) |
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| 測(cè)試頻率 |
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz |
| 選件002 |
增加20kHz測(cè)試頻率 |
| 頻率精度 |
±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) |
| 輸出阻抗 |
100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） |
| 交流測(cè)試信號(hào)電平 |
20mV～1Vrms,以5mVrms分檔 |
| 精度 |
±（10%+10mV) |
| 內(nèi)部直流偏置 |
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| 電平 |
1.5和2V；精度：±（5%+2mV) |
| 外部直流偏置 |
0～+2.5V |
| 測(cè)量范圍： |
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| |Z|,R,X： |
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| 測(cè)量范圍 |
1mΩ-100MΩ |
| |Y|,G,B： |
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| 測(cè)量范圍 |
10nS-1000S |
| C： |
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| 測(cè)量范圍 |
1pF-1F |
| L： |
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| 測(cè)量范圍 |
10nH-100kH |
| D： |
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| 測(cè)量范圍 |
0.0001-9.9999 |
| 測(cè)量精度： |
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| 測(cè)量范圍 |
±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) |
| 模式 |
時(shí)間（典型值） |
| 短 |
25ms |
| 中等 |
65ms |
| 長(zhǎng) |
500ms |
| 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器 |
電壓和電流 |
| 顯示數(shù)字 |
3，4或5位（可選擇） |
| 開(kāi)路/短路誤差為0 |
消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 |
| 負(fù)載 |
利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度 |
| 比較功能 |
對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 |
| 存儲(chǔ)/調(diào)用 |
可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能 |
若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23°±5℃下≦72小時(shí)） |
| GPIB接口 |
所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 |
| 產(chǎn)品持有證書(shū) |
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CE | |
本類(lèi)
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